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Wall Street Journal besucht I.C.T

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  • I.C.T begrüßte die Wall Street Journal-Journalistin Hannah Miao und einen Fotografen zu einem Fabrikbesuch und Interview vor Ort. Die Diskussion konzentrierte sich auf die Entwicklung von I.C.T, Produktionslinienlösungen von SMT, die chinesische Elektronikfertigung und die Zukunft exportorientierter Fertigungsunternehmen. I.C.T-Gründer Henry berichtete über den Wachstumskurs des Unternehmens, seine globale Serviceerfahrung und seine Ansichten darüber, wie chinesische Hersteller von der Ausrüstungslieferung hin zu Komplettlösungen, technischem Support und langfristiger globaler Zusammenarbeit übergehen.

    2026.06.06

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